服务及能力 - 浙江杭可仪器有限公司

测试能力

近几年，公司采购了多款高端测试设备，扩展了已有的测试能力和测试范围，测试容量呈较大幅度增长能够有效地缩短测试周期，将以创新的方法为客户提供老化测试解决方案。

ITC52300

*测试功率双极型管、混合电路、IGBT、MOSFET、SiC、JFET、二极管，使用军用标准：MIL-STD-750，方法：1026.3、1027.1、1036.3、1037、1039 和 1042.1；

*间歇或稳态工作寿命测试；

*每个设备板的 10 A @24V/48 V 电源；

*单个设备监控和数据记录；

*每个 DUT 板最多提供 100 个器件；

*每个 DUT 板的设备功率为 480W；

*最多 16 块 DUT 板；

*DUT 测试板可随时插入，而不会中断测试周期。

DL602AC

*一个温区，-40℃～+150℃;

*8种图形，最大频率10MHz;

*184通道，16个插槽;

*16M矢量内存;

*最大循环时间100～20480nS;

*VOH/OL +0.5V～+6V;

*ISink/Source≥±125mA;

*Tr/Tf≤50nS;

*O/S&U/S≤10%。

ADVANTEST V93000

*V93000凭借其可扩展的平台架构，通过灵活的机台配置实现各种类型芯片的测试，可满足从低成本的IoT芯片到高端的诸如汽车电子类、高集成度多核处理器等芯片的测试需求。 PS1600数字板卡、AVI64板卡、高集成度的RF射频板卡、模拟混合信号板卡、一流的DPS板卡和VI板卡均拥有通用的测试通道架构，帮助客户实现更大的测试覆盖率、加快客户芯片上市时间，让测试环节更加经济高效。

*集成了创新的高性能独立测试通道。在多同测数的情况下，每个测试通道可独立处理测试需求，从而获得最大的灵活性及最优的性能。测试处理器的整体控制确保在数字板卡、电源板卡、射频板卡、混合信号板卡等所有类型的测试板卡间的时序同步。