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DHTOL2000
功率器件动态老化系统
该系统可对MOSFET器件及第三代SiC、GaN器件进行动态老化和测试,老化过程中实时监测被测器件的峰值电流、工作电压、导通电阻,并根据需要记录老化试验数据,导出试验报表。