该系统可进行室温 +10℃~+200℃的电容器老化筛选试验，老化过程中实时监测被测器件的漏电流状态、被测器件的电压状态，对超限器件进行保护剔除，并根据需要记录老化数据，导出试验报表。
试验温区 | 1个 |
试验温度 | 室温+10℃~200℃ |
试验工位数量 | 38400（MAX） |
电流监控 | 单点监控 |
失效记录 | 每个器件单独记录失效数据 |
电压范围 | 5V~300V |
AGV/RGV支持 | 支持 |
器件在位检测 | 支持 |
短路检测 | 支持 |
自动充放电 | 支持 |
自动上下料 | 支持 |
整机供电 | 三相AC380V±38V |
最大功率 | 24KW |
整机重量 | 680Kg（典型）起 |
整机尺寸 | 1400mm(W) × 1400mm(D) × 2000mm(H)起 |
AEC Q200
适用于片式陶瓷电容器（MLCC）、云母、薄膜、纸介、陶瓷和金属化纸介电容器等
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