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静态可靠性测试系统
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HTRB2000

高温反偏可靠性测试系统
该系统可进行室温+10℃~+200℃的高温反偏老化测试，老化过程中实时监测被测器件的漏电流状态、被测器件的电压状态，并根据需要记录老化试验数据，导出试验报表。

HTRB3100

热板式高温反偏可靠性测试系统
该系统可进行室温+10℃~+230℃的高温反偏老化测试，老化过程中实时监测被测器件的漏电流状态、被测器件的电压状态，并根据需要记录老化试验数据，导出试验报表。

HTXB4100

自动化产线高温偏置可靠性测试系统
该系统可进行室温+10℃~+200℃的高温反偏及栅偏老化测试，老化过程中实时监测被测器件的漏电流状态、被测器件的电压状态，并根据需要记录老化试验数据，导出试验报表。


提供自动化产线解方案

HTGB2000

高温栅偏可靠性测试系统
该系统可进行室温+10℃~+200℃的高温栅偏老化测试，老化过程中实时监测被测器件的漏电流状态、被测器件的电压状态，并根据需要，记录老化试验数据，导出试验报表。

HTXB2000

高温偏置可靠性测试系统
该系统可进行室温+10℃~+200℃的高温反偏及栅偏老化测试，老化过程中实时监测被测器件的漏电流状态、被测器件的电压状态，并根据需要记录老化试验数据，导出试验报表。

H3TRB2000

高温高湿反偏可靠性测试系统
该系统可进行高温高湿（双85）老化测试，老化过程中实时监测被测器件的漏电流状态、被测器件的电压状态，并根据需要记录老化试验数据，导出试验报表。