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高压加速老化测试系统(HAST2000)

该系统可进行高温、高湿、高气压老化测试,老化过程中实时监测被测器件的漏电流状态、被测器件的电压状态,并根据需要记录老化试验数据,导出试验报表。

功能
  • nA级别的漏电流检测精度
  • 整机30s的全工位数据刷新
  • 独特高压抑制电路,器件瞬间击穿不影响其他工位老化进程
  • 可定制工位老化电压独立控制功能,实现单工位老化超限剔除
  • 充分的实验员人身安全考虑设定
产品特性

实验温区

1个/2个(根据烘箱决定)

实验温度

105℃~150℃(最高)

实验湿度

65%~100%RH

压力范围

0.019 至 0.208 MPa

老化试验通道

4通道(单腔)/8通道(双腔)

单腔检测点

20工位(可根据烘箱测试座子最大增加至160位)

老化电压范围

0V-1000V

电压检测精度

±(1%+2LSB);分辨率0.1V

电流检测范围

0.1μA~50mA

电流检测精度

±(1%+2LSB)

整机供电

AC220V±22V

最大功率

12KW

整机重量

700kg(典型)

整机尺寸

控制柜:1840mm(高)×1000mm(宽)×1000mm(深)
试验箱:1840mm(高)×800mm(宽)×1000mm(深)(典型)


适用标准

GJB128、MIL-STD-750D、AQG324

适用器件

适用于二极管、三极管、MOSFET管、达林顿管、可控硅、SIC管、IGBT模块、PIM模块等。