该系统支持双温区，可进行室温~+150℃的HTOL老化测试，老化过程中实时检测被测器件的输出信号，过程中自动对比向量。
试验温区 | 2个 |
试验温度 | 室温~+150°C |
老化试验区 | 16区/32槽位 |
数字信号频率 | 12.5MHz |
向量深度 | 16M |
信号通道数 | 184路（其中32路双向I/O） |
时钟组数 | 8组 |
信号周期 | 80~20480nS |
时序边沿 | 双沿 |
PIN格式 | 8种 |
信号输入输出电压 | 0.5~5V |
I/O驱动电流 | DC=50mA、瞬时电流≥80mA |
DPS电源 | 0.5~10V/10A |
DPS电源数 | 8个（可根据客户需求配置） |
DPS输出保护 | OVP（过压）、UVP（欠压）、OCP（过流） |
整机供电 | 三相AC380V±38V |
最大功率 | 35KW（典型） |
整机重量 | 1600Kg（典型） |
整机尺寸 | 3200mm(W) x 1675mm(D) x 2370mm(H) |
MIL-STD-883、MIL-STD-38510、AEC-Q100
适用于通用超大规模集成电路、SoC、FPGA、ARM、AI、低功率GPU等超大规模集成电路
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