该系统可对芯片进行室温~+150°C的HTOL测试，老化过程中实时检测被测器件的输出信号，过程中自动对比向量。
试验温区 | 1个 |
试验温度 | 室温~+150°C |
老化试验区 | 32区 |
数字信号频率 | 12.5MHz |
向量深度 | 32M |
信号通道数 | 256路独立可编程双向I/O |
时钟组数 | 8组 |
信号周期 | 80~20480nS |
时序边沿 | 双沿 |
PIN 格式 | 8种 |
信号输入输出电压 | 0.5~5V |
I/O驱动电流 | DC＞50mA |
DPS电源 | 0.5~10V/5A |
DPS电源数 | 10个（可根据客户需求配置） |
DPS输出保护 | OVP（过压）、UVP（欠压）、OCP（过流） |
整机供电 | 三相AC380V±38V |
最大功率 | 100KW（典型） |
整机重量 | 2200Kg（典型） |
整机尺寸 | 2800mm(W) x 1480mm(D) x 2310mm(H) |
MIL-STD-883、MIL-STD-38510、AEC-Q100
适用于通用超大规模集成电路、SoC、FPGA、ARM、AI、低功率GPU等超大规模集成电路
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