展会回顾|杭可仪器精彩亮相上海慕尼黑电子展

2023/07/14

杭可仪器荣幸参加了上海慕尼黑电子展,展期从711日至13日,这是一场备受瞩目的电子行业盛会。作为可靠性测试行业的领军企业,杭可仪器展示了最新的老化测试设备和解决方案,吸引了众多专业人士和企业代表的关注。杭可仪器的展位C636成为展会现场的焦点之一。展览期间,我们与参会者进行了深入的技术交流和商务洽谈,共同探讨行业发展的前沿趋势和创新应用。

作为可靠性测试领域的专家,杭可仪器凭借多年的经验和技术实力,为客户提供了全面的解决方案。杭可产品展示的出色性能和可靠性,赢得了与会者的认可和赞赏。参加上海慕尼黑电子展是我们积极拓展市场、推动创新的重要举措。展会为我们提供了与行业同仁深入交流、了解市场需求的机会。通过与客户和合作伙伴的互动,我们进一步巩固了合作关系,并为未来的发展奠定了坚实的基础。

我们的销售和技术团队备受赞誉。他们展现出了卓越的专业素养和精湛的专业知识,以客户为导向,积极倾听客户需求,并通过精准的销售咨询和技术支持提供最佳解决方案。他们的才华和奉献精神推动着业务增长,树立了公司在市场中的良好声誉。感谢销售和技术团队的辛勤工作和卓越表现。

该系统适用于各种尺寸的IGBT模块的功率循环试验,且运用先进的JEDEC静态试验方法(JESD51-1)通过改变电子器件的输入功率,使得器件产生温度变化。在变化过程中,通过测试芯片的瞬态温度响应曲线,并对测试波形进行数据处理,得到该电子器件的全面热特性。

该系统采用TDBI技术,可进行室温+10℃~150℃ HTOL老化测试,老化过程中实时监测被测器件的输出信号,过程中自动对比向量。


感谢所有莅临我们展位的客户和观展者,正是您的支持和关注,使我们的展会取得圆满成功。

杭可仪器将一如既往地致力于不断提升产品质量和技术创新,为客户提供更优质的解决方案和服务。

如您在可靠性测试设备和解决方案方面有任何需求或合作意向,请随时与我们联系。

我们期待与您携手合作,共同开创更美好的未来!