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【再创佳绩】浙江杭可仪器有限公司获得“首台套”证书!

2024/01/12

为深入贯彻省委、省政府关于制造业首台(套)提升工程的有关要求,省经信厅牵头组织了2023年度首台(套)产品认定工作,确定2023年度浙江省首台(套)装备292项。
浙江杭可仪器有限公司的LSIC7000 超大规模集成电路老化测试系统在本次认定工作中成功入选,该系统凭借其创新性和技术领先性,在集成电路老化测试领域取得了重大突破。这一认定不仅是对浙江杭可仪器有限公司的认可,更是对浙江省制造业创新能力和技术水平的肯定。




1. 主要功能
支持对FPGA、ARM、DSP、GPU、CPU、AI芯片等超大规模集成电路的寿命评估实验、车规级芯片出厂老化测试、二筛服务。试验温度是室温+10℃至+150℃ 范围内的HTOL老化测试,允许实时监测与对比,并支持still向量文件导入设备运行。
2. 产品优势
TDBl(老化中测试) 技术,支持实时监测元件输出信号。
支持芯片运行BIST测试和SCAN测试。
兼容美国MCC与韩国DI公司的LOGIC老化设备向量,便于客户迁移测试向量。
采用硬公制高速连接器,大幅提高测试信号完整性。
采用专用大电流连接器,可靠性、稳定性高。
3. 重要性及必要性
新能源汽车、国内军工芯片的国产化替代导致半导体老化设备需求在快速增加。
中美贸易摩擦推动国内半导体行业自主可控进程。
LSIC7000超大规模集成电路老化系统可完全代替进口设备,全面实现国产化,为超大规模集成电路器件寿命评估、老化测试提供可靠的工艺设备保障。

4.技术指标



感谢各级政府及相关部门对我们的大力支持与认可,衷心感激每一位团队成员的辛勤付出。展望未来,我们将坚定不移地以科技为先导,持续加大研发投入,推动企业科技创新,努力为客户提供更优质的产品和服务。


我们有信心,浙江杭可仪器有限公司将以卓越的业绩,成为行业的领军企业,为社会的发展做出更大的贡献。