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功率循环测试系统

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PC1800A/3000A/3600A

IGBT功率循环可靠性测试系统(sec)

该系统适用于各种尺寸的IGBT模块的功率循环试验，且运用先进的JEDEC静态测试方法（JESD51-1）。通过改变电子器件的输入功率，使得器件产生温度变化。变化过程中，通过测试芯片的瞬态温度响应曲线，并对测试波形进行数据处理，得到该电子器件的全面热特性。

PC1800C/3000C/3600C

IGBT功率循环可靠性测试系统(sec)

该系统适用于各种尺寸的IGBT模块的功率循环试验，且运用先进的JEDEC静态测试方法（JESD51-1）。通过改变电子器件的输入功率，使得器件产生温度变化。变化过程中，通过测试芯片的瞬态温度响应曲线，并对测试波形进行数据处理，得到该电子器件的全面热特性。

IOL3000

功率循环可靠性测试系统 (min)

该系统适用于各种封装(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、TO-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等)的大功率二极管、MOS管等功率器件进行功率循环试验和恒温功率试验。系统每个区位风道独立，充分避免不同区位试验进程不同对试验结果造成影响;在实验过程中，监测器件的电压、结温特性，并且提供结温特性曲线以备后期数据分析。