点击咨询产品电容器高温高湿老化测试系统(H3MKP2000)
该系统可对电容器进行高温高湿(双85)老化，老化过程中实时监测被测器件的漏电流、电压，并且根据需要记录、导出老化数据。
功能
- nA级别的漏电流检测精度
- 整机30s的全工位数据刷新
- 独特高压抑制电路，器件瞬间击穿不影响其他工位老化进程
- 独特的自动充放电回路设计
- 充分的实验员人体安全考虑设定
产品特性
试验温区 | 1个 |
试验温度 | 室温-20~180℃ |
试验湿度 | 25%rh~98%rh |
老化试验区 | 16区(8/16区可选) |
单区工位数 | 40(典型) |
老化电压范围 | 0~1200V |
电压检测精度 | ±(1%+2LSB) |
电流检测范围 | 10nA~30mA |
电流检测精度 | ±(1%+10nA) |
整机供电 | 三相AC380V±38V |
最大功率 | 12KW(典型) |
整机重量 | 1050KG(典型) |
整机尺寸 | 1650mm(W)×1750mm(D)×1950mm(H) |
适用标准
GJB360 MIL-STD-202E
适用器件
适用于片式陶瓷电容器（MLCC）、云母、薄膜、纸介、陶瓷和金属化纸介电容器等