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微波管高温静态工作老化测试系统(MFS2004)

该系统共配置12个独立工作的试验区,每个试验区具备4路器件老化工位,整机共48个器件老化工位,12个试验区可通过上位机实现独立或同时控制、监测、记录、通讯。每个工位可以独立控制被测器件的壳温,检测精度达1%±2℃。实时监测老化过程中被测器件的各项参数并进行记录,采用技术先进的可调稳压大功率二次电源。

功能
  • 实时监测被测器件的电流、电压状态,自动调整被测器件的电流
  • 可独立控制被测器件的壳温,精度达1%±2℃
  • 可适配不同封装、功率要求的微波功率器件
产品特性

试验温区

12个

试验温度

70~200℃

老化试验区

12区

漏极电压控制范围

0.01~60V

漏极电压控制精度

±(1%+0.1V)

栅极电压控制范围

-10~10V

栅极电压控制精度

±(1%+0.01V)

漏极电流检测范围

0~5A

漏极电流检测精度

±(1%+1mA)

栅极电流检测范围

0~50mA

栅极电流检测精度

±(1%+0.01mA)

壳温波动度

±1℃

壳温检测精度

±(1%+2℃)

电源

0~60V/40A(12路可选配)

整机供电

三相AC380V±38V

最大功率

25KW(典型)

整机重量

1000KG(典型)

整机尺寸

1800mm(W)×1300mm(D)×2000mm(H)

适用标准

GJB128 MIL-STD-750 MIL-M-19500

适用器件

适用于GaN、GaAs等微波管