点击咨询产品微波管高温静态工作老化测试系统(MFS2004)
该系统共配置12个独立工作的试验区，每个试验区具备4路器件老化工位，整机共48个器件老化工位，12个试验区可通过上位机实现独立或同时控制、监测、记录、通讯。每个工位可以独立控制被测器件的壳温，检测精度达1%±2℃。实时监测老化过程中被测器件的各项参数并进行记录，采用技术先进的可调稳压大功率二次电源。
功能
- 实时监测被测器件的电流、电压状态，自动调整被测器件的电流
- 可独立控制被测器件的壳温，精度达1%±2℃
- 可适配不同封装、功率要求的微波功率器件
产品特性
试验温区 | 12个 |
试验温度 | 70~200℃ |
老化试验区 | 12区 |
漏极电压控制范围 | 0.01~60V |
漏极电压控制精度 | ±(1%+0.1V) |
栅极电压控制范围 | -10~10V |
栅极电压控制精度 | ±(1%+0.01V) |
漏极电流检测范围 | 0~5A |
漏极电流检测精度 | ±(1%+1mA) |
栅极电流检测范围 | 0~50mA |
栅极电流检测精度 | ±(1%+0.01mA) |
壳温波动度 | ±1℃ |
壳温检测精度 | ±(1%+2℃) |
电源 | 0~60V/40A(12路可选配) |
整机供电 | 三相AC380V±38V |
最大功率 | 25KW(典型) |
整机重量 | 1000KG(典型) |
整机尺寸 | 1800mm(W)×1300mm(D)×2000mm(H) |
适用标准
GJB128 MIL-STD-750 MIL-M-19500
适用器件
适用于GaN、GaAs等微波管