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当前位置: 首页 产品中心 可靠性测试设备 分立器件实验设备 二极管老化 稳压二极管恒流老化测试系统 (MFS2003)

稳压二极管恒流老化测试系统(MFS2003)

该系统适用于对各种封装(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、TO-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2)的稳压二极管和其它二极管等器件进行恒流功率试验。

功能
  • 提供12路高精度恒流电子负载,可单独控制和保护每个试验器件
  • 设备的老化电源可设置为程控模式与手动模式
  • 采用横向强迫风冷结构设计,带走老化过程中产生的热量,使试验腔的温度趋于均匀
  • 提供8套独立的风机冷却控制装置,独立控制2个试验区
产品特性

试验温区

1个

试验温度

室温+10~200℃(无烘箱工作温度5~35℃)

老化试验区

16区

试验电流

0~60A

试验电压

0~25V

电流检测范围

50mA~5A

电压检测范围

0~25V

电流检测精度

±(1%+5mA)

电压检测精度

±(1%+0.1V)

恒流电子负载检测范围

50mA~5A

恒流电子负载精度

±(1%+5mA)

老化模式

恒流、间歇

电源

0~25V/60A(16路可选配)

整机供电

三相AC380V±38V

最大功率

15KW(典型)

整机重量

700KG(典型)

整机尺寸

1450mm(W)×1450mm(D)×2000mm(H)

适用标准

GJB128 GJB33 MIL-STD-750

适用器件

适用于F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、TO-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等封装的稳压二极管和二极管