点击咨询产品稳压二极管恒流老化测试系统(MFS2003)
该系统适用于对各种封装(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、TO-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2)的稳压二极管和其它二极管等器件进行恒流功率试验。
功能
- 提供12路高精度恒流电子负载，可单独控制和保护每个试验器件
- 设备的老化电源可设置为程控模式与手动模式
- 采用横向强迫风冷结构设计，带走老化过程中产生的热量，使试验腔的温度趋于均匀
- 提供8套独立的风机冷却控制装置，独立控制2个试验区
产品特性
试验温区 | 1个 |
试验温度 | 室温+10~200℃(无烘箱工作温度5~35℃) |
老化试验区 | 16区 |
试验电流 | 0~60A |
试验电压 | 0~25V |
电流检测范围 | 50mA~5A |
电压检测范围 | 0~25V |
电流检测精度 | ±(1%+5mA) |
电压检测精度 | ±(1%+0.1V) |
恒流电子负载检测范围 | 50mA~5A |
恒流电子负载精度 | ±(1%+5mA) |
老化模式 | 恒流、间歇 |
电源 | 0~25V/60A(16路可选配) |
整机供电 | 三相AC380V±38V |
最大功率 | 15KW(典型) |
整机重量 | 700KG(典型) |
整机尺寸 | 1450mm(W)×1450mm(D)×2000mm(H) |
适用标准
GJB128 GJB33 MIL-STD-750
适用器件
适用于F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、TO-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等封装的稳压二极管和二极管