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高温反偏老化测试系统(HTRB4000)

该系统可进行室温+10℃~200℃的高温反偏老化测试,老化过程中实时监测被测器件的漏电流状态、被测器件的电压状态,并根据需要记录老化试验数据,导出试验报表。

功能
  • 使用热平台加热方式对器件进行加热
  • 可实现每个器件独立加热平台,独立控温
  • 良好的热传递特性,针对IGBT模块/分立器件高温高漏电特性,可实现175Tj情况下稳定的HTRB试验
  • 可定制独立保护功能,实现单工位超限切断
  • 自动化装载平台,程序门控,可搭配地轨实现全自动化
  • 可根据需求进行测试柜增配、减配
  • 充分的实验员人体安全考虑设定
产品特性

试验热平台

96个

试验温度

室温+10℃~200℃

试验区位

12个

老化电压范围

-2000V~+2000V

电压检测精度

±(1%+2LSB)

电流检测范围

10nA~50mA

电流检测精度

±(1%+10nA)

整机供电

三相AC380V±38V

最大功率32KW (典型)

整机重量

6000KG (典型)

整机尺寸(6+1配置)

7000mm(W) x 1200mm(D) x 2250mm(H)

适用标准

MIL-STD-750D AQG324

适用器件

适用于MOS管、二极管、三极管、IGBT模块、PIM模块、可控硅等