点击咨询产品间歇寿命老化测试系统(IOL3000)
该系统适用于各种封装(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、T-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等)的大功率二极管、MOS管等功率器件进行功率循环试验和恒流功率试验。系统每个区位风道独立，充分避免不同区位试验进程不同对试验结果造成影响;在实验过程中，监测器件的电压、结温特性，并且提供结温特性曲线以备后期数据分析。
功能
- 风冷功率循环试验
- 每个区位独立风道
- 大风力散热风机
- 最大60A电流试验能力
- 支持全开通加热模式
- 充分的实验员人体安全考虑设定
产品特性
试验模式 | 风冷 |
试验风道 | 16个 |
老化试验区 | 16区 |
单区工位数 | 16-80(典型) |
最大负载 | 300m(被测器件横流模式) 60A(饱和导通模式) |
最大电压 | 45V |
最大测试温度 | 200°C |
电压检测精度 | ± (1+2LSB) |
栅极控制电压 | ±15V |
结温测试电流(Isense) | Isense 10~100mA |
接地电阻 | ≤1Ω |
整机供电 | 三相AC380V±38V |
最大功率 | 50KW(典型) |
整机重量 | 700KG(典型) |
整机尺寸 | 1800mm(W)x1400mm(D)x1950mm(H) |
适用标准
MIL-STD-750D AEC-Q101
适用器件
适用于MOS管、二极管、三极管、IGBT模块、PIM模块、SIC、GAN、可控硅等