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间歇寿命老化测试系统(IOL3000)

该系统适用于各种封装(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、T-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等)的大功率二极管、MOS管等功率器件进行功率循环试验和恒流功率试验。系统每个区位风道独立,充分避免不同区位试验进程不同对试验结果造成影响;在实验过程中,监测器件的电压、结温特性,并且提供结温特性曲线以备后期数据分析。

功能
  • 风冷功率循环试验
  • 每个区位独立风道
  • 大风力散热风机
  • 最大60A电流试验能力
  • 支持全开通加热模式
  • 充分的实验员人体安全考虑设定


产品特性

试验模式

风冷

试验风道

16个

老化试验区

16区

单区工位数

16-80(典型)

最大负载

300m(被测器件横流模式) 60A(饱和导通模式)

最大电压

45V

最大测试温度

200°C

电压检测精度


± (1+2LSB)


栅极控制电压

±15V

结温测试电流(Isense)


Isense 10~100mA


接地电阻

≤1Ω

整机供电


三相AC380V±38V


最大功率

50KW(典型)

整机重量

700KG(典型)

整机尺寸

1800mm(W)x1400mm(D)x1950mm(H)

适用标准

MIL-STD-750D AEC-Q101

适用器件

适用于MOS管、二极管、三极管、IGBT模块、PIM模块、SIC、GAN、可控硅等