产品导航
当前位置: 首页 产品中心 可靠性测试设备 分立器件实验设备 光耦老化 光耦老化测试系统 (GPIC2004)

光耦老化测试系统(GPIC2004)

该系统可对各种单光耦、双光耦、四光耦器件进行高温恒流和恒功率老化,适应输入端种类:各种双向输入型、单向输入型器件;适应输出端种类:三极管、达林顿管、可控硅、数字电路等。系统可适用于研究所、微电路器件生产厂等进行各种器件的寿命筛选试验和二级筛选试验,适用于小批量多品种的试验要求。

功能
  • 驱动板功能模块化,由各个模块实现不同功能,后续更换维修方便
  • 可对不同通道数,种类光耦进行测试,通用性强
  • 有1024个恒流环,可对每一路单独校准,实现高精度测试
  • 可兼容各种不同型号老化板,实现对不同器件的老化
产品特性

试验温区

1个

试验温度

室温+10~200℃

老化试验区

16区

负载恒流控制范围

1~80mA

程控精度

±(1.0%xRD+2LSB)

电压检测范围

0.1V~120.0V、误差±(1.0%xRD+2LSB)

老化通道数

16x64=1024

漏电流检测范围

1~100mA

漏电流检测精度

±(1.0%xRD+2LSB)

老化模式

具有恒流恒功率两种工作模式

恒功率检测误差

±(3.0%xRD+3mW)

电源

0~60V/40A(8路可选配)

整机供电

三相AC380V±38V

最大功率

8KW(典型)

整机重量

650KG(典型)

整机尺寸

1400mm(W)×1400mm(D)×2000mm(H)

适用标准

GJB128 GJB33 MIL-STD-75

适用器件

适应于各种单光耦、双光耦、四光耦器件;各种双向输入型、单向输入型器件;三极管、达林顿管、可控硅、数字电路等