点击咨询产品光耦老化测试系统(GPIC2004)
该系统可对各种单光耦、双光耦、四光耦器件进行高温恒流和恒功率老化，适应输入端种类：各种双向输入型、单向输入型器件；适应输出端种类：三极管、达林顿管、可控硅、数字电路等。系统可适用于研究所、微电路器件生产厂等进行各种器件的寿命筛选试验和二级筛选试验，适用于小批量多品种的试验要求。
功能
- 驱动板功能模块化，由各个模块实现不同功能，后续更换维修方便
- 可对不同通道数，种类光耦进行测试，通用性强
- 有1024个恒流环，可对每一路单独校准，实现高精度测试
- 可兼容各种不同型号老化板，实现对不同器件的老化
产品特性
试验温区 | 1个 |
试验温度 | 室温+10~200℃ |
老化试验区 | 16区 |
负载恒流控制范围 | 1~80mA |
程控精度 | ±(1.0%xRD+2LSB) |
电压检测范围 | 0.1V~120.0V、误差±(1.0%xRD+2LSB) |
老化通道数 | 16x64=1024 |
漏电流检测范围 | 1~100mA |
漏电流检测精度 | ±(1.0%xRD+2LSB) |
老化模式 | 具有恒流恒功率两种工作模式 |
恒功率检测误差 | ±(3.0%xRD+3mW) |
电源 | 0~60V/40A(8路可选配) |
整机供电 | 三相AC380V±38V |
最大功率 | 8KW(典型) |
整机重量 | 650KG(典型) |
整机尺寸 | 1400mm(W)×1400mm(D)×2000mm(H) |
适用标准
GJB128 GJB33 MIL-STD-75
适用器件
适应于各种单光耦、双光耦、四光耦器件；各种双向输入型、单向输入型器件；三极管、达林顿管、可控硅、数字电路等