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间歇寿命老化测试系统(IOL2000)

该系统适用于各种封装(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、TO-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等) 的大功率二极管、MOS管等功率器件进行功率循环试验和恒流功率试验。系统每个区位风道独立,充分避免不同区位试验进程不同对试验结果造成影响;在实验过程中,监测器件的电压、结温特性,并且提供结温特性曲线以备后期数据分析。

功能
  • 风冷功率循环试验
  • 每个区位独立风道
  • 大风力散热风机
  • 最大60A电流试验能力
  • 支持全开通加热模式
产品特性

试验温区

1个(K系数)

试验温度

室温+10~200℃(K系数)

老化试验区

16区(8/16/20区可选)

单区工位数

4(典型)

工位最大可串联数量

8

老化电压范围

0~60V

电压检测精度

±(1%+2LSB)

电流检测范围

100mA~60A

电流检测精度

±(1%+100mA)

结温测试电流(Isense)

10~100mA

整机供电

三相AC380V±38V

最大功率

30KW(典型)

整机重量

1200KG(典型)

整机尺寸

2075mm(W)×1350mm(D)×1950mm(H)

适用标准

GJB128 MIL-STD-750D AEC-Q101

适用器件

适用于MOS管、二极管、三极管等功率器件