点击咨询产品间歇寿命老化测试系统(IOL2000)
该系统适用于各种封装(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、TO-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等) 的大功率二极管、MOS管等功率器件进行功率循环试验和恒流功率试验。系统每个区位风道独立，充分避免不同区位试验进程不同对试验结果造成影响；在实验过程中，监测器件的电压、结温特性，并且提供结温特性曲线以备后期数据分析。
功能
- 风冷功率循环试验
- 每个区位独立风道
- 大风力散热风机
- 最大60A电流试验能力
- 支持全开通加热模式
产品特性
试验温区 | 1个(K系数) |
试验温度 | 室温+10~200℃(K系数) |
老化试验区 | 16区(8/16/20区可选) |
单区工位数 | 4(典型) |
工位最大可串联数量 | 8 |
老化电压范围 | 0~60V |
电压检测精度 | ±(1%+2LSB) |
电流检测范围 | 100mA~60A |
电流检测精度 | ±(1%+100mA) |
结温测试电流(Isense) | 10~100mA |
整机供电 | 三相AC380V±38V |
最大功率 | 30KW(典型) |
整机重量 | 1200KG(典型) |
整机尺寸 | 2075mm(W)×1350mm(D)×1950mm(H) |
适用标准
GJB128 MIL-STD-750D AEC-Q101
适用器件
适用于MOS管、二极管、三极管等功率器件